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RT-100电阻率测试仪操作手册

来源:年旅网


施美乐博公司上海代表处  上海浦东新区商城路738号胜康廖氏大厦1909 Tel: +86-21-583620 Fax: +86-21-58362887 E-mail: semilab@semilab.com.cn Website://www.semialb.com.cnRT 系列操作手册 

Semilab RT 系列电阻率测试设备主要包括: • Rt-100 电阻率测试仪

无接触、无损伤、快速体电阻率测试: - 采用涡流场原理,测试体电阻率 - 可以测量单晶、多晶,无需表面处理 - 可用来分类测试锅底料、锭、棒、片等

- 测试范围:0.5 – 20 ΩCM (选配功能:0.01 – 0.5 ΩCM) - 可选配无接触P/N型号测试

• Rt-110 电阻率厚度测试仪

无接触硅片体电阻率测试:

- 采用涡流场原理,测试硅片的体电阻率

- 电阻率范围:0.5 – 20 ΩCM (选配功能:0.01 – 0.5 ΩCM) - 精度: 2 ΩCM以下:3% 2 ΩCM以上:5% - 测试速度: 1s / 点

- 可选加无接触电容法测硅片厚度功能 - 可选配无接触硅锭、回炉料电阻率测试 - 可选配无接触P/N型号测试

I.原理

Eddy current measurement 涡流法

当通有交流电的圆形线圈靠接样品时,线圈中的磁场会在样品诱导形成环形的电流叫做涡流电流,涡流电流与样品的电导率成正比,涡流法测试实际上测试的是电流在样品中的损失。

系统的输出信号与功率成正比,功率用来保证振动的振幅恒定,此信号在电阻率为特定的值时最强,向大小两个方向减弱,因此两个不同的电阻率会对应一个相同的信号。为进行区分,也需要对频率的去谐进行测试,低电阻率的样品去谐很明显,高电阻率的样品则不很明显,因此,去谐对对应相同信号的不同电阻率的样品有很好的区分度。

频率

对涡流电流的反馈影响很大,一般选择在125-135MHz,这个频率适于测试0.5-25ohmcm的样品。

几何形状

如样品不平或者尺寸很大,几何特性例如曲率,边缘等等。会影响涡流电流的反馈。如果涡流电流探头接触表面,几何的影响就会减小。

接近

探头线圈越接近表面,对线圈的影响越大。因此,当线圈与样品的距离增大时敏感度越低。

渗透深度

因电流密度的分布,被测样品的表面反馈最强,随着深度增大而减小。可以很方便的用数学计算来定义”标准注入深度”,即当涡流电流的值变为表面值的1/e时。 标准注入深度 • 频率增加时减小 • 电导率增加时减小

• 渗透性增加时减小(在常用频率内含铁的样品注入深度很小) 经常提到的所谓“有效注入深度”通常定义为标准深度的3倍,在此处电流密度降低到表面值的约3%。这个深度通常认为对涡流电流场已经不构成影响。

II.安装

1.设备由电脑控制,可方便的测试电阻率由0.5--25 cm的样品。 在测试范围内的测试精度是±5%,

2.电压:100—230v ,单相线,50或60Hz

III.软件操作 1. 启动

启动后设备需要3分钟的预热,以保证探笔的正常工作,启动后界面如下:

彩色电阻率显示条功能按键 功能窗口 测试的信号以毫伏为单位,计算出的电阻率以 cm表示,signal后面有小字体的电压值,如果样品电阻率如果小于0.2 cm此电压值会大于50mv,这种情况下电阻率超过量程,显示… cm.

在同一点进行测量时,最小电阻率对应的是最大的电压振幅值,以最小值作为样品电阻率值,用绿色大号字体显示出来,然后继续对最小值进行搜索。如果移开探笔后再置于样品表面,电阻率同样会在彩色电阻率显示条中显示,以便快速对样品进行分类排序。

如果样品值超过量程范围会有报警声,同时电阻率彩色显示条会闪烁

报警。彩色显示条中的颜色可以根据需要进行设置,

2.功能键

Min,Max:用于设置彩色电阻率显示条的最小、最大的范围。

Colors:设置颜色数量及跨度值。 Comp:补偿,将电压的偏差清零。 Snd On 和Snd Off:报警声音的开和关。 Rate:每秒测试次数,可从1设置到100。 Save:用于设置参数的保存。

Signal:电压信号随时间变化的图像。 Resist:电阻率随时间变化的图像。 Stat:

Count:测试次数 Minimum:最小值 Maximum:最大值 Average:平均值

Deviation:平均偏差值

Calib:校准。

2. 校准界面:

首先点击Comp进行补偿,然后点击Calib,出现如下对话框:

Add:新增校准数据

Clear:清除所有校准数据

Last:清除最后一项校准数据 Time:校准时间调整

Load:读取已存储的校准文件 Save:保存当前校准文件

Calibrations Constants:A,B,C,D 校准参数,无需改

IV.操作

1, 打开主电源

2, 将探笔置于样品表面平坦处,手持保持稳定大约1

秒钟,测试结果将显示在屏幕上。 3,

z 样品厚度至少应该1—3cm z 尽量测试样品表面平坦处 z 确保探笔与样品保持稳定

z 如果single的绝对值大于4mv,在测试前要做补偿

4, 校准

4.1 RT-100校准:

校准至少需要5块样品,样品的值要覆盖所测量程。 a.补偿

b.测试第一块样品

c.点击Add显示Voltage“Enter Value”窗口

d.直接点击ok,出现Resistivity“Enter Value”窗口

e.输入实际的电阻率值,点击ok输入的值将显示在calibration窗口中

f.将5个校准值都输入之后,点击save存储

g.存储完毕,校准结束

4.2RT110厚度电阻率校正步骤

打开真空泵,打开电源,预热5分钟后进入主界面。Auto打开为自动模

式,关闭后为手动模式,手动模式下打开vacuum才能测量。

厚度校正步骤:

片子的选择:至少需要3片标准样片,最大与最小厚度至少相差200um,例如:选择厚度为200um,350um,500um校正片3片。

1. 切换到手动模式。

2. 在Calib模式下,点击Thick.

3. 点击Comp,放入硅片,点击vacuum,开始测量,点击Add,出现 Frequency对话框,不改变Frequency值,点击OK。出现Thick 对话框,输入所放硅片厚度值,点击ok,点击vacuum后,取出 硅片。

4. 其他片子的校正,同步骤3。

5. 校正结束,点击Calib模式下的save,命名文件名保存。 6. 点击原屏幕下的save保存。

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