探针卡与测试方法

来源：年旅网

（19）中华人民共和国国家知识产权局

（12）发明专利申请

（21）申请号 CN201110311169.5 （22）申请日 2011.10.14

（71）申请人日月光半导造股份有限公司

地址中国高雄市

（10）申请公布号 CN102435798A

（43）申请公布日 2012.05.02

（72）发明人曹育诚

（74）专利代理机构北京市柳沈律师事务所

代理人陶凤波

（51）Int.CI

G01R1/073;

权利要求说明书说明书幅图

（）发明名称

探针卡与测试方法

（57）摘要

本发明公开一种探针卡与测试方法。该探

针卡整合了具有不同冲程的多个探针。当面对待测物上的不同高度的接点时，此具有不同冲程的多个探针可同时接触此不同高度的接点，以对待测物进行测试。此外，应用此探针卡的测试方法也被提出。

法律状态

法律状态公告日

2012-05-02 2012-06-27 2015-05-20

公开

法律状态信息

公开

实质审查的生效授权

法律状态

实质审查的生效授权

权利要求说明书

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说明书

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