您好,欢迎来到年旅网。
搜索
您的当前位置:首页探针卡与测试方法

探针卡与测试方法

来源:年旅网
(19)中华人民共和国国家知识产权局

(12)发明专利申请

(21)申请号 CN201110311169.5 (22)申请日 2011.10.14

(71)申请人 日月光半导造股份有限公司

地址 中国高雄市

(10)申请公布号 CN102435798A

(43)申请公布日 2012.05.02

(72)发明人 曹育诚

(74)专利代理机构 北京市柳沈律师事务所

代理人 陶凤波

(51)Int.CI

G01R1/073;

权利要求说明书 说明书 幅图

()发明名称

探针卡与测试方法

(57)摘要

本发明公开一种探针卡与测试方法。该探

针卡整合了具有不同冲程的多个探针。当面对待测物上的不同高度的接点时,此具有不同冲程的多个探针可同时接触此不同高度的接点,以对待测物进行测试。此外,应用此探针卡的测试方法也被提出。

法律状态

法律状态公告日

2012-05-02 2012-06-27 2015-05-20

公开

法律状态信息

公开

实质审查的生效 授权

法律状态

实质审查的生效 授权

权利要求说明书

探针卡与测试方法的权利要求说明书内容是....请下载后查看

说明书

探针卡与测试方法的说明书内容是....请下载后查看

因篇幅问题不能全部显示,请点此查看更多更全内容

Copyright © 2019- oldu.cn 版权所有 浙ICP备2024123271号-1

违法及侵权请联系:TEL:199 1889 7713 E-MAIL:2724546146@qq.com

本站由北京市万商天勤律师事务所王兴未律师提供法律服务