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用于测量电容性元件之间的电容差的方法和系统[发明专利]

来源:年旅网
专利内容由知识产权出版社提供

专利名称:用于测量电容性元件之间的电容差的方法和系统专利类型:发明专利

发明人:G·范德帕拉斯,泽田宪,宫森雄壹,A·安查理亚,A·米尔

申请号:CN201280063614.3申请日:20120628公开号:CN104169728A公开日:20141126

摘要:用于测量电容差的方法和系统。第一和第二电容性元件连接在用于接收第一和第二DC电压的电压接收节点与可经由第一或第二开关连接到第三DC电压的节点之间。在第一阶段,施加电压差以对电容性元件充电,并且这些开关交替地闭合。第一所得电流被测量出。在第二阶段,交替地施加第一和第二DC电压,并且这些开关交替地闭合。第二所得电流被测量出。电容差可根据第一和第二所得电流来确定。

申请人:IMEC公司,索尼株式会社

地址:比利时勒芬

国籍:BE

代理机构:上海专利商标事务所有限公司

代理人:陈小刚

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