一种微米粒子光学检测装置[发明专利]

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专利内容由知识产权出版社提供

专利名称：一种微米粒子光学检测装置专利类型：发明专利

发明人：武俊峰,吴一辉,李彦呈申请号：CN201811633456.6申请日：20181229公开号：CN109724901A公开日：20190507

摘要：本发明提供了一种微米粒子检测装置，该微米粒子检测装置是基于米氏散射理论来检测粒子尺度，并且通过在激光器主线光路上设置的反射部件来将主激光束反射出扩散光束传播光路外，使得最后的光接收器中收集到的光信号中只有米氏散色光。本装置通过减少主激光对检测信号的干扰，能够减少粒子检测过程中的噪声和提高信噪比，对获得的米氏散射光的散射图案进行记录和特征辨识，对该粒子进行标记，从而提高粒子检测的精准度。能够使研究人员快速准确的检测粒子。

申请人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所

地址：130033 吉林春市经济技术开发区东南湖大路3888号

国籍：CN

代理机构：深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人：吴乃壮

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