一种基于双金属纳米粒子用于偏振显微成像的探针[发明专利]

来源：年旅网

专利内容由知识产权出版社提供

专利名称：一种基于双金属纳米粒子用于偏振显微成像的探针专利类型：发明专利发明人：洪昕

申请号：CN2017103427.0申请日：20170517公开号：CN107101942A公开日：20170829

摘要：本发明公开了一种基于双金属纳米粒子用于偏振显微成像的探针，探针由两个分别具有表面等离子共振效应的金属纳米粒子线性连接构成，粒子间距的取值不大于最大粒子的直径。本发明利用双金属纳米粒子间的表面等离子共振耦合对入射光产生的去偏振作用和增强散射，用正交偏振技术去除强大的入射背景并提取双金属纳米粒子的增强散射信号进行成像，本发明的效果和益处是为单分子影像技术提供一种基于双金属纳米粒子的新型探针。

申请人：大连理工大学

地址：124221 辽宁省盘锦市辽东湾新区大工路2号

国籍：CN

代理机构：大连理工大学专利中心

代理人：梅洪玉

更多信息请下载全文后查看

因篇幅问题不能全部显示，请点此查看更多更全内容

查看全文