一种IC芯片测试系统和方法[发明专利]

来源：年旅网

专利内容由知识产权出版社提供

专利名称：一种IC芯片测试系统和方法专利类型：发明专利发明人：张浩亮,谭鑫

申请号：CN2018113249.1申请日：20181108公开号：CN109324281A公开日：20190212

摘要：本发明公开了一种IC芯片测试系统和方法，用以解决无法快速准确地确定出IC芯片当前进入的测试模式的问题。系统包括：测试机台，时钟模块和控制模块；控制模块分别与时钟模块和测试机台连接；测试机台根据每种测试模式对应的信息，确定IC芯片当前进入的目标测试模式对应的目标信息，发送给控制模块；时钟模块用于计时；控制模块根据目标信息，确定目标测试模式对应的高、低电平的时长；根据高电平的第一时长和低电平的第二时长，时钟模块的计时时间，确定目标脉冲序列；将目标脉冲序列输出给测试机台，不同的测试模式对应的脉冲序列不同；测试机台显示目标脉冲序列，测试人员及时准确地根据目标脉冲序列确定出IC芯片当前进入的测试模式。

申请人：珠海格力电器股份有限公司

地址：519070 广东省珠海市前山金鸡西路

国籍：CN

代理机构：北京同达信恒知识产权代理有限公司

代理人：黄志华

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