通过太赫兹波检测气体里德伯态精细谱线的方法[发明专利]

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专利内容由知识产权出版社提供

专利名称：通过太赫兹波检测气体里德伯态精细谱线的方法专利类型：发明专利

发明人：彭滟,朱亦鸣,周云燕,霄炜,罗坤,陈向前,钟宇,郑书琪申请号：CN201410750016.4申请日：20141210公开号：CN104457991A公开日：20150325

摘要：本发明涉及一种通过太赫兹波检测气体里德伯态精细谱线的方法，从激光光源输出的超短脉冲激光经单色分束片，一部分进入太赫兹波发射系统，辐射出太赫兹波汇聚进入密闭腔，聚焦在密闭腔内部，另一部分超短脉冲激光经依次经过可调节光路进入密闭腔，在太赫兹波焦平面处聚焦；由真空泵将密闭腔抽成真空状态后，再通过气体管注入检测气体，检测气体被聚焦的超短脉冲激光电离形成片状等离子体，该片状表面与太赫兹波入射方向垂直；太赫兹波和片状等离子体在密闭腔内相互作用，太赫兹波谱探测系统检测相互作用产生的吸收峰，从太赫兹波谱中的吸收峰推断出检测气体里德伯态原子\\分子中电子所处的能级状态。分辨率高，装置简单，容易操作，应用范围广。

申请人：上海理工大学

地址：200093 上海市杨浦区军工路516号

国籍：CN

代理机构：上海申汇专利代理有限公司

代理人：吴宝根

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