电子器件测试装置与电子测试装置中的温度控制方法[发明专利]

来源：年旅网

专利内容由知识产权出版社提供

专利名称：电子器件测试装置与电子测试装置中的温度控制方

法

专利类型：发明专利发明人：细田滋,小川正章申请号：CN200580051403.8申请日：20050825公开号：CN101248361A公开日：20080820

摘要：一种电子器件测试装置(1)，它具有：根据IC器件D内所设的热二极管的电压测定IC器件D的温度的温度测定装置(51)；设于推进器(150)中的温度传感器(1)与温度施加装置(153)；依据相对于所定的IC器件D的温度测定装置(51)取得的测定温度与温度传感器(1)所得的测定温度之差计算校准值的校准装置；此测试装置(1)在实际工作中由温度测定装置(51)测定拟测试的IC器件D的温度，根据此求得的测定温度与校准装置算出的校准值控制该温度施加装置(153)。

申请人：株式会社爱德万测试

地址：日本东京

国籍：JP

代理机构：中国国际贸易促进委员会专利商标事务所

代理人：杜日新

更多信息请下载全文后查看

因篇幅问题不能全部显示，请点此查看更多更全内容

查看全文